刻蚀机用硅电极及硅环 起草单位
硅单晶退火片 起草单位
硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 起草单位
晶片通用网格规范 主要起草单位
确定晶片坐标系规范 起草单位
半导体材料牌号表示方法 起草单位
非本征半导体材料导电类型测试方法 起草单位
硅单晶切割片和研磨片 起草单位
硅单晶抛光片 起草单位
免费申请：参编标准申报评估
提交后 1 个工作日内回电，为您评估可申报的标准（国家标准 / 行业标准 / 团体标准）。
参编可获得：参编证明 1 周内可出，标准发布前即可用于投标、行业话语权与投标竞争力。名额有限，欲报从速。
参编可获得：参编证明 1 周内可出，标准发布前即可用于投标、行业话语权与投标竞争力。名额有限，欲报从速。
✓ 已收到您的申请
我们将在 1 个工作日内与您联系
也可直接电话/微信咨询：18660107518
我们将在 1 个工作日内与您联系
也可直接电话/微信咨询：18660107518