国标即将实施
GB/T 45716.1-2026
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 第1部分：MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验
起草单位（18 家）
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