国标现行
GB/T 41805-2022
光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
起草单位（8 家）
浙江大学牵头杭州晶耐科光电技术有限公司中国科学院大连化学物理研究所中国工程物理研究院激光聚变研究中心中国科学院上海光学精密机械研究所中国兵器工业标准化研究所江苏皇冠新材料科技有限公司福建福特科光电股份有限公司
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