300mm硅外延片 起草单位
碳化硅单晶 起草单位
埋层硅外延片 主要起草单位
碳化硅外延片 主要起草单位
半导体材料术语 起草单位
碳化硅晶体材料缺陷图谱 起草单位
碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法 起草单位
硅外延用三氯氢硅 起草单位
碳化硅单晶抛光片 起草单位
硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法 主要起草单位
硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 主要起草单位
硅外延片 起草单位
硅抛光片表面颗粒测试方法 起草单位
半导体材料牌号表示方法 起草单位
200mm硅外延片 主要起草单位
硅片订货单格式输入规范 起草单位
硅外延用三氯氢硅 起草单位
免费申请：参编标准申报评估
提交后 1 个工作日内回电，为您评估可申报的标准（国家标准 / 行业标准 / 团体标准）。
参编可获得：参编证明 1 周内可出，标准发布前即可用于投标、行业话语权与投标竞争力。名额有限，欲报从速。
参编可获得：参编证明 1 周内可出，标准发布前即可用于投标、行业话语权与投标竞争力。名额有限，欲报从速。
✓ 已收到您的申请
我们将在 1 个工作日内与您联系
也可直接电话/微信咨询：18660107518
我们将在 1 个工作日内与您联系
也可直接电话/微信咨询：18660107518