企业标准参编对标报告
「南京国盛电子有限公司」
生成日期：2026年10月01日 · 数据来源：全国团体标准信息平台 / 全国标准信息公共服务平台等公开渠道 · 共收录标准 437,116 项（持续扩充中）
一、贵企业参编概况
28参编标准总数
9牵头起草
1团标
24国标
3行标
| 标准号 | 标准名称 | 级别 | 发布机构 | 本企业角色 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 44334-2024 | 埋层硅外延片 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 主要起草单位 |
| GB/T 43885-2024 | 碳化硅外延片 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 主要起草单位 |
| GB/T 14146-2021 | 硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 主要起草单位 |
| GB/T 39145-2020 | 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 主要起草单位 |
| GB/T 35310-2017 | 200mm硅外延片 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 主要起草单位 |
| YS/T 14-2015 | 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法 | 行标 | 工业和信息化部 | 主要起草单位 |
| YS/T 15-2015 | 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法 | 行标 | 工业和信息化部 | 主要起草单位 |
| GB/T 6617-2009 | 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 主要起草单位 |
| GB/T 14146-2009 | 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 主要起草单位 |
| GB/T 47917-2026 | 300mm硅外延片 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 47404-2026 | 碳化硅单晶 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 14264-2024 | 半导体材料术语 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 43612-2023 | 碳化硅晶体材料缺陷图谱 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 42905-2023 | 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 42902-2023 | 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 30652-2023 | 硅外延用三氯氢硅 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 30656-2023 | 碳化硅单晶抛光片 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 41325-2022 | 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 1551-2021 | 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| T/CNIA 0103—2021 | 绿色设计产品评价技术规范 电子级氯硅烷 | 团标 | 中国有色金属工业协会 | 参编单位 |
| GB/T 14139-2019 | 硅外延片 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 19921-2018 | 硅抛光片表面颗粒测试方法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 14844-2018 | 半导体材料牌号表示方法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 32279-2015 | 硅片订货单格式输入规范 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| YS/T 28-2015 | 硅片包装 | 行标 | 工业和信息化部 | 起草单位 |
| GB/T 30652-2014 | 硅外延用三氯氢硅 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 30453-2013 | 硅材料原生缺陷图谱 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
| GB/T 14141-2009 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 起草单位 |
最近一次参编标准发布日期：2026-07-02
二、同行参编对比
| 对标企业 | 参编总数 | 与本企业同标 |
|---|---|---|
| 有色金属技术经济研究院有限责任公司 | 311 项 | 11 项 |
| 浙江金瑞泓科技股份有限公司 | 31 项 | 8 项 |
| 有研半导体材料有限公司 | 22 项 | 6 项 |
三、可参编标准机会清单
以下 13 项标准有 2 家及以上同行领先企业参与、而贵企业尚未参编，建议优先评估：
| 标准号 | 标准名称 | 级别 | 发布机构 | 同行参与 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 14847-2025 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司（2 家） |
| GB/T 14140-2025 | 半导体晶片直径测试方法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司（2 家） |
| GB/T 24578-2024 | 半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司（2 家） |
| GB/T 1558-2023 | 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司（2 家） |
| GB/T 43315-2023 | 硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司（2 家） |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司（2 家） |
| GB/T 42789-2023 | 硅片表面光泽度的测试方法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司（2 家） |
| GB/T 1555-2023 | 半导体单晶晶向测定方法 | 国标 | 国家标准化管理委员会 | 有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司（2 家） |
四、招投标加分潜力分析
| 标准级别 | 牵头起草 | 参与起草 |
|---|---|---|
| 国家标准 | 4 ~ 6 分 | 2 ~ 4 分 |
| 行业标准 | 3 ~ 5 分 | 1.5 ~ 3 分 |
| 团体标准 | 2 ~ 4 分 | 1 ~ 2 分 |
贵企业现有参编组合的标准化加分潜力约为 70.5 ~ 125 分
其中牵头起草 9 项可争取更高档位分值 · 多数招标项目技术标标准化加分上限为 5 ~ 10 分，贵企业已可覆盖多数项目的加分上限，后续参编主要提升竞争壁垒
以上 28 项标准均可在发布前开具参编证明，直接作为投标佐证材料（1 周内可出）
| 企业 | 标准化加分潜力估算 | 与贵企业差距 |
|---|---|---|
| 本企业 | 70.5 ~ 125 分 | — |
| 有色金属技术经济研究院有限责任公司 | 586 ~ 1172 分 | 落后约 1047 分 |
| 浙江金瑞泓科技股份有限公司 | 58.5 ~ 117 分 | 贵企业领先约 8 分 |
| 有研半导体材料有限公司 | 42 ~ 84 分 | 贵企业领先约 41 分 |
说明：分值区间依据政府采购、工程建设类招标常见评标办法整理，仅作参考；实际加分以各项目招标文件评审标准为准。
五、结论与建议
综上，贵企业当前参编 28 项标准（牵头 9 项），在同行业对比中仍有提升空间——同行领先企业参编 311 项，差距即机会。结合上方机会清单，优先选择与主营业务强相关、正处于征集阶段的团体标准切入。
参编标准可为企业带来：投标加分与资质背书、行业话语权、参编证明（1 周内可出，标准发布前即可用于投标）。
参编申报咨询：18660107518（微信同号）