企业标准参编对标报告

「河北半导体研究所(中国电子科技集团公司第十三研究所)」
生成日期:2026年09月30日 · 数据来源:全国团体标准信息平台 / 全国标准信息公共服务平台等公开渠道 · 共收录标准 437,116 项(持续扩充中)

一、贵企业参编概况

3参编标准总数
3牵头起草
3国标
标准号标准名称级别发布机构本企业角色
GB/T 43493.2-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法 国标 国家标准化管理委员会 主要起草单位
GB/T 43493.3-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法 国标 国家标准化管理委员会 主要起草单位
GB/T 43493.1-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类 国标 国家标准化管理委员会 主要起草单位
最近一次参编标准发布日期:2023-12-28

二、同行参编对比

取与本企业同标准共现最多的同行企业,对比参编规模(同标 = 与本企业在同一标准中共同署名)。
本企业(河北半导体研究所(中国电子科技集团公司第十三研究所))
3牵头 3 项
浙江大学
1689与本企业同标 3 项
中国科学院半导体研究所
148与本企业同标 3 项
之江实验室
142与本企业同标 3 项
对标企业参编总数与本企业同标
浙江大学1689 项3 项
中国科学院半导体研究所148 项3 项
之江实验室142 项3 项

三、可参编标准机会清单

以下 32 项标准有 2 家及以上同行领先企业参与、而贵企业尚未参编,建议优先评估:
标准号标准名称级别发布机构同行参与
GB/T 46567.1-2025 智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性 国标 国家标准化管理委员会 中国科学院半导体研究所、之江实验室、浙江大学(3 家)
GB/T 20521.12-2026 半导体器件 第14-12部分:半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法 国标 国家标准化管理委员会 之江实验室、浙江大学(2 家)
GB/Z 262-2026 类脑计算 动态视觉传感器测试方法 国标 国家标准化管理委员会 之江实验室、浙江大学(2 家)
GB/Z 216-2026 类脑计算 参考架构 国标 国家标准化管理委员会 之江实验室、浙江大学(2 家)
GB/Z 255-2026 类脑计算 神经拟态芯片计算能力测试方法 国标 国家标准化管理委员会 之江实验室、浙江大学(2 家)
GB/Z 46809.2-2026 半导体器件 第19-2部分:智能传感器 低功耗运行的智能传感器及电源的规格说明 国标 国家标准化管理委员会 之江实验室、浙江大学(2 家)
GB/Z 191-2026 智能计算 隐私保护计算技术框架 国标 国家标准化管理委员会 之江实验室、浙江大学(2 家)
YD/T 6743-2026 电信数据价值评价指标 行标 工业和信息化部 之江实验室、浙江大学(2 家)

四、招投标加分潜力分析

标准化业绩是招投标技术标的重要加分项。已根据贵企业 3 项参编记录(牵头 3 项)与同行数据,完成加分潜力测算。
标准级别牵头起草参与起草
国家标准4 ~ 6 分2 ~ 4 分
行业标准3 ~ 5 分1.5 ~ 3 分
团体标准2 ~ 4 分1 ~ 2 分
贵企业现有参编组合的标准化加分潜力约为 12 ~ 18 分
其中牵头起草 3 项可争取更高档位分值 · 多数招标项目技术标标准化加分上限为 5 ~ 10 分,贵企业已可覆盖多数项目的加分上限,后续参编主要提升竞争壁垒
以上 3 项标准均可在发布前开具参编证明,直接作为投标佐证材料(1 周内可出)
企业标准化加分潜力估算与贵企业差距
本企业12 ~ 18 分—
浙江大学 2,437.5 ~ 4875 分 落后约 4857 分
中国科学院半导体研究所 214.5 ~ 429 分 落后约 411 分
之江实验室 230.5 ~ 461 分 落后约 443 分
说明:分值区间依据政府采购、工程建设类招标常见评标办法整理,仅作参考;实际加分以各项目招标文件评审标准为准。

五、结论与建议

综上,贵企业当前参编 3 项标准(牵头 3 项),在同行业对比中仍有提升空间——同行领先企业参编 1689 项,差距即机会。结合上方机会清单,优先选择与主营业务强相关、正处于征集阶段的团体标准切入。

参编标准可为企业带来:投标加分与资质背书、行业话语权、参编证明(1 周内可出,标准发布前即可用于投标)。

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